DIN 50435-1988
半导体材料试验:采用四探针/直流法测量硅片和锗片电阻率的径向变化
Testing of semiconductor materials; determination of the radial resistivity variation of silicon or germanium slices by means of the four-probe/direct current method
DIN 50435-1988 发布历史
DIN 50435-1988由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 1988-05。
DIN 50435-1988 在中国标准分类中归属于: H82 元素半导体材料，在国际标准分类中归属于: 29.045 半导体材料。
DIN 50435-1988的历代版本如下：
- 1988年05月 DIN 50435-1988 半导体材料试验:采用四探针/直流法测量硅片和锗片电阻率的径向变化
