DIN 50435:1988
半导体材料试验:采用四探针/直流法测量硅片和锗片电阻率的径向变化
Testing of semiconductor materials; determination of the radial resistivity variation of silicon or germanium slices by means of the four-probe/direct current method
- 标准号
- DIN 50435:1988
- 发布
- 1988年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 当前最新
- DIN 50435:1988
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