DIN 50450-2-1991
半导体工艺材料的检验.载运气体和混合气体中杂质的测定.第2部分:用原电池测定氮(下标2)、氩、氦、氖、氢(下标2)中的氧杂质

Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of oxygen impurity in N2, Ar, He, Ne and H2 by using a galvanic cell


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 DIN 50450-2-1991 前三页,或者稍后再访问。

如果您需要购买此标准的全文,请联系:

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 

标准号
DIN 50450-2-1991
发布日期
1991年03月
实施日期
废止日期
中国标准分类号
G86
国际标准分类号
71.100.20
发布单位
德国标准化学会
适用范围
The standard should define the test method for determining the content of O2 in the carrier and doping gases N2, Ar, He, Ne and H2.#,,#

DIN 50450-2-1991系列标准





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号