DIN 50442-1-1981
半导体无机材料的检验.圆形单晶体半导体薄片表面结构的测定.第1部分:切割和研磨的薄片

Testing of semi-conductive inorganic materials; determination of the surface structure of circular monocrystalline semi-conductive slices; as-cut and lapped slices

DIN 50442-1-1981 发布历史

Testing of semi-conductive inorganic materials; determination of the surface structure of circular monocrystalline semi-conductive slices; as-cut and lapped slicesEssai des matériaux semi-conducteurs minéraux; détermination de la structure de la surface

DIN 50442-1-1981由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 1981-02。

DIN 50442-1-1981 在中国标准分类中归属于: H82 元素半导体材料，在国际标准分类中归属于: 29.045 半导体材料。

DIN 50442-1-1981的历代版本如下：

• 1981年02月 DIN 50442-1-1981 半导体无机材料的检验.圆形单晶体半导体薄片表面结构的测定.第1部分:切割和研磨的薄片

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 DIN 50442-1-1981 前三页，或者稍后再访问。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

DIN 50442-1-1981

发布日期

1981年02月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

H82

国际标准分类号

29.045

发布单位

DE-DIN

适用范围

Testing of semi-conductive inorganic materials; determination of the surface structure of circular monocrystalline semi-conductive slices; as-cut and lapped slicesEssai des matériaux semi-conducteurs minéraux; détermination de la structure de la surface