GB/T 17473.1-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content
GBT17473.1-1998, GB17473.1-1998
2008-09
GB/T 17473.1-1998 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- GB/T 17473.1-1998
- 别名
- GBT17473.1-1998
GB17473.1-1998 - 发布
- 1998年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 替代标准
- GB/T 17473.1-2008
- 当前最新
- GB/T 17473.1-2008
- 本标准规定了贵金属浆料中固体含量的测试方法。 本标准适用于各种贵金属浆料中固体含量的测定。非贵金属浆料中固体含量的测定亦可参照使用。