The method according to the document covers the determination of the recombination carrier lifetime at low injection by the photo conductive decay method.
DIN 50440-1998由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 1998-11。
DIN 50440-1998 在中国标准分类中归属于: H82 元素半导体材料,在国际标准分类中归属于: 29.045 半导体材料。
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