DIN 50455-2:1999
半导体技术用材料的试验.表征光敏抗蚀剂的方法.第2部分:阳极光敏抗蚀剂的光敏度的测定

Testing of materials for semiconductor technology - Methods for the characterisation photoresists - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists


DIN 50455-2:1999


标准号
DIN 50455-2:1999
发布
1999年
发布单位
德国标准化学会
替代标准
DIN 50455-2:1999-11
当前最新
DIN 50455-2:1999-11
 
 
根据该文件的方法涵盖了通过将硅晶片上的单层正性光刻胶与参考光刻胶的确定的光敏性进行比较来表征光刻胶。

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