JEDEC JESD22-C101C-2004
微电子元件抗静电放电域值的场诱导放电装置模型的试验方法

Field-Induced Charged-Device Model Test Method for Electrostatic- Discharge-Withstand Thresholds of Microelectronic Components

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标准号

JEDEC JESD22-C101C-2004

发布

2004年

发布单位

(美国)固态技术协会,隶属EIA

 

 

适用范围

This standard describes a uniform method for establishing charged device model (CDM) electrostatic discharge (ESD) “withstand” thresholds. Copyright Solid State Technology Association Reproduced by IHS under license with JEDEC No reproduction or networking permitted without license from IHS Not for Resale --`,,,`,,-`-`,,`,,`,`,,`---

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