FT110A还符合标准ISO 3497、ASTM B568和DIN 50987中概述的测量方法。它能够确定从钛(22)到铀(92)的镀层厚度,并继续为未来新开发的创新镀层提供所需的精度。了解更多…如需了解FT110A的所有功能并安排样机演示,请联系我们。您可以在“阅读原文”查看FT110A台式光谱仪的完整技术概述。...
X射线镀层膜厚测试仪Ux-720,该款仪器特别为颇具挑战性的RoHS/ WEEE分析而研发。而且,它还十分适合于测量黄金及其他贵金属,分析金的成分重复性可达0,5 ‰。可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。 使用安全简便,坚固耐用节省维护费用。而且,它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。...
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