SANS 3497:1990
金属镀层．镀层厚度的测定．X射线光谱测定法

Metallic coatings - Measurement of coating thickness - X-ray spectrometric methods

2008-11

 

 

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标准号
SANS 3497:1990
发布
1990年
发布单位
ZA-SANS
替代标准
SANS 3497-2008
SANS 3497:2008
当前最新
SANS 3497-2008
SANS 3497:2008
 
 
适用范围
本国际标准规定了采用 X 射线光谱法测量金属涂层厚度的方法。这些方法允许同时测量一些三层系统。 2. 本国际标准适用的测量方法从根本上来说是测定单位面积质量的方法。利用涂层材料密度的知识，测量结果也可以表示为涂层的线性厚度。 3. 给定涂层材料的实际测量范围很大程度上取决于可接受的测量不确定度，并且可能因所使用的仪器系统和操作程序而异。附录 A 中给出了常见材料的典型范围表。

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