IEC 60749-3:2002
半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

被代替

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标准号

IEC 60749-3:2002

发布

2002年

中文版

GB/T 4937.3-2012 (等同采用的中文版本)

发布单位

国际电工委员会

替代标准

IEC 60749-3:2002/COR1:2003

当前最新

IEC 60749-3:2017

 

 

被代替标准

IEC 47/1531A/CDV:2000 IEC 47/1596/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002 IEC/PAS 62163:2000

适用范围

IEC 60749 这一部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标记和工艺是否符合适用的采购文件。外部目视检查是一种非破坏性测试，适用于所有包装类型。该测试对于鉴定、过程监控或批次验收或两者都有用。

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