ISO 16232-7:2007
道路车辆.液压管路部件清洁度.第7部分:显微分析测量粒径和计数

Road vehicles - Cleanliness of components of fluid circuits - Part 7: Particle sizing and counting by microscopic analysis


ISO 16232-7:2007 中,可能用到以下仪器设备

 

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

FEI Quanta x50 FEG场发射环境扫描电镜

FEI Quanta x50 FEG场发射环境扫描电镜

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子6700F高分辨扫描电子显微镜

日本电子6700F高分辨扫描电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜

日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

大气压扫描电镜

大气压扫描电镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

聚焦离子束系统

聚焦离子束系统

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

Quanta SEM

Quanta SEM

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

聚焦离子束系统

聚焦离子束系统

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

Apollo 300 扫描电镜

Apollo 300 扫描电镜

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN LYRA3镓等离子双束FIB系统(GM)

TESCAN LYRA3镓等离子双束FIB系统(GM)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

泰思肯VEGA 3 LMU/LMH扫描电镜

泰思肯VEGA 3 LMU/LMH扫描电镜

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN MIRA3场发射扫描电镜(XMU/XMH)

TESCAN MIRA3场发射扫描电镜(XMU/XMH)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

泰思肯VEGA 3 SBU/VEGA 3 SBH微型扫描电子显微镜

泰思肯VEGA 3 SBU/VEGA 3 SBH微型扫描电子显微镜

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

泰思肯VEGA3 GMH/VEGA3 GMU扫描电镜

泰思肯VEGA3 GMH/VEGA3 GMU扫描电镜

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

超大样品室钨灯丝扫描电镜VEGA 3 XMU/XMH

超大样品室钨灯丝扫描电镜VEGA 3 XMU/XMH

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN MIRA3场发射扫描电镜(LMH/LMU)

TESCAN MIRA3场发射扫描电镜(LMH/LMU)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN RISE电镜拉曼一体化显微镜

TESCAN RISE电镜拉曼一体化显微镜

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN S8000G 高分辨镓离子型双束扫描电镜

TESCAN S8000G 高分辨镓离子型双束扫描电镜

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN S8000 超高分辨场发射扫描电镜

TESCAN S8000 超高分辨场发射扫描电镜

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

泰思肯微型扫描电子显微镜Small Base

泰思肯微型扫描电子显微镜Small Base

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN Xe等离子双束扫描电镜(FIB-SEM)

TESCAN Xe等离子双束扫描电镜(FIB-SEM)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

泰思肯集成矿物分析仪 TIMA-X(GM)

泰思肯集成矿物分析仪 TIMA-X(GM)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TIMA-X(FEG GMU/GMH)大样品仓矿物分析仪系统

TIMA-X(FEG GMU/GMH)大样品仓矿物分析仪系统

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

GAIA3 model 2016超高分辨双束扫描电镜系统 (FIB-SEM)

GAIA3 model 2016超高分辨双束扫描电镜系统 (FIB-SEM)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN 聚焦离子束扫描电镜 LYRA3(XM)

TESCAN 聚焦离子束扫描电镜 LYRA3(XM)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN综合矿物分析仪 TIMA-X(LM)

TESCAN综合矿物分析仪 TIMA-X(LM)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN MAIA3 model 2016 (XM)超高分辨场发射扫描电镜

TESCAN MAIA3 model 2016 (XM)超高分辨场发射扫描电镜

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN VEGA3钨灯丝扫描电镜(LM)

TESCAN VEGA3钨灯丝扫描电镜(LM)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN MAIA3 model 2016 (LM)超高分辨场发射扫描电镜

TESCAN MAIA3 model 2016 (LM)超高分辨场发射扫描电镜

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN MIRA3场发射定制版扫描电镜(AMU)

TESCAN MIRA3场发射定制版扫描电镜(AMU)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN VEGA3大样品室钨灯丝扫描电镜(XM)

TESCAN VEGA3大样品室钨灯丝扫描电镜(XM)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

GAIA3(XMU/XMH) Ga离子双束扫描电镜(FIB-SEM)

GAIA3(XMU/XMH) Ga离子双束扫描电镜(FIB-SEM)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN MIRA3场发射扫描电镜(GMH/GMU)

TESCAN MIRA3场发射扫描电镜(GMH/GMU)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN大样品仓双束电镜 (FIB-SEM)

TESCAN大样品仓双束电镜 (FIB-SEM)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

集成矿物分析仪 TIMA-X FEG(LM)

集成矿物分析仪 TIMA-X FEG(LM)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN MAIA3 model 2016 (GM)超高分辨场发射扫描电镜

TESCAN MAIA3 model 2016 (GM)超高分辨场发射扫描电镜

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

ISO 16232-7:2007

标准号
ISO 16232-7:2007
发布
2007年
发布单位
国际标准化组织
当前最新
ISO 16232-7:2007
 
 
引用标准
ISO 16232-1 ISO 16232-10 ISO 16232-2 ISO 16232-3 ISO 16232-4 ISO 16232-5
ISO 16232 的这一部分定义了确定污染物颗粒尺寸和数量的方法,这些污染物颗粒是从组件中提取并沉积在膜过滤器表面上的,通过使用光学显微镜 (LM) 或扫描电子显微镜进行测定(扫描电镜)。 该测量的结果是膜过滤器上的颗粒尺寸分布。 由于单个或几个关键颗粒的存在可能会损害零部件的功能,因此对整个膜过滤器表面的完整分析至关重要。 如果有合适的设备,这些分析可以...

ISO 16232-7:2007相似标准


推荐


ISO 16232-7:2007 中可能用到的仪器设备


谁引用了ISO 16232-7:2007 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号