ECA CB-13-1990
镀层厚度测定的X射线荧光

X-Ray Fluorescence for Measuring Plating Thickness


ECA CB-13-1990 中,可能用到以下仪器设备

 

XRF痕量元素分析及镀层测厚仪 (X-Strata980)

XRF痕量元素分析及镀层测厚仪 (X-Strata980)

牛津仪器(上海)有限公司

 

天瑞Thick800A X荧光镀层测厚仪

天瑞Thick800A X荧光镀层测厚仪

江苏天瑞仪器股份有限公司

 

天瑞Thick 600 X荧光镀层测厚仪

天瑞Thick 600 X荧光镀层测厚仪

江苏天瑞仪器股份有限公司

 

THICK680测厚仪(X荧光光谱仪)

THICK680测厚仪(X荧光光谱仪)

江苏天瑞仪器股份有限公司

 

Thick 800A镀层测厚仪

Thick 800A镀层测厚仪

江苏天瑞仪器股份有限公司

 

Thick 8000镀层测厚仪

Thick 8000镀层测厚仪

江苏天瑞仪器股份有限公司

 

牛津测厚仪CMI900

牛津测厚仪CMI900

牛津仪器(上海)有限公司

 

Compact eco德国Roentgenanalytik-X射线镀层测厚仪

Compact eco德国Roentgenanalytik-X射线镀层测厚仪

牛津仪器(上海)有限公司

 

大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD

大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD

布鲁克衍射荧光事业部(AXS)

 

日立FT150镀层测厚仪

日立FT150镀层测厚仪

日立分析仪器(上海)有限公司

 

日立FT100A镀层测厚仪

日立FT100A镀层测厚仪

日立分析仪器(上海)有限公司

 

MAXXI 6 X射线荧光镀层测厚仪

MAXXI 6 X射线荧光镀层测厚仪

日立分析仪器(上海)有限公司

 

X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪

X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪

日立分析仪器(上海)有限公司

 

标准号
ECA CB-13-1990
发布
1990年
发布单位
美国电子元器件、组件及材料协会
 
 
目前有多种技术用于测量镀层厚度。所有这些都有特殊的应用和局限性,但是,基本经济学要求在常用的镀层厚度范围内测量金厚度,

ECA CB-13-1990相似标准


推荐

网络讲堂邀请:X射线荧光法直接测定NiP镀层厚度和含量

主题:X射线荧光法直接测定NiP镀层厚度和含量开始时间: 2017-1-12 15:00结束时间: 2017-1-12 16:00主讲人: 董松林,牛津仪器(上海)有限公司台式荧光应用工程师,长期从事X射线荧光仪和XRF分析方法应用与技术支持工作。【内容简介】化学镍(NiP)镀层应用在表面处理行业非常广泛,但生产工艺控制中对于NiP镀层厚度和成分同时监控是一个难点。...

案例分享 | X射线荧光分析仪测量镀层厚度

Vanta新型Vanta系列仪器性能改进:坚固耐用,高效多产仪器配备SD存储卡可使用WI-FI,蓝牙(Bluetooth)适配器进行数据传输可使用USB闪存盘进行方便快速数据传输Axon技术提高分析结果精准性IP 65/64—防尘防水坠落测试(MIL-STD-810G) 探测器快门闸保护及聚酰亚胺网眼保护奥林巴斯手持式X射线荧光分析仪可对包括镁和铀在内很多元素进行快速无损分析,可检测出含量从百万分率到...

网络讲座 | X荧光光谱仪在涂镀层分析中应用

X射线荧光法,一直是元素分析重要方法,同时也适用于样品涂镀层厚度及成分分析。如果您在如下行业中从事分析测试工作:1.    贵金属、珠宝首饰黄金分析,贵金属合金分析,珠宝镀层分析,铂金上镀层分析2.    钢铁、五金电镀钢材镀锌/铬、铝材镀锆/钛、哈式合金镀层厚度测定3.    装饰材料:装饰涂层分析4.   ...

网络讲座今日14:00开播 | X荧光光谱仪在涂镀层分析中应用

点击蓝字关注我们X射线荧光法,一直是元素分析重要方法,同时也适用于样品涂镀层厚度及成分分析。如果您在如下行业中从事分析测试工作:1.    贵金属、珠宝首饰黄金分析,贵金属合金分析,珠宝镀层分析,铂金上镀层分析2.    钢铁、五金电镀钢材镀锌/铬、铝材镀锆/钛、哈式合金镀层厚度测定3.    装饰材料:装饰涂层分析4.   ...


ECA CB-13-1990 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号