主题:X射线荧光法直接测定NiP镀层厚度和含量开始时间: 2017-1-12 15:00结束时间: 2017-1-12 16:00主讲人: 董松林,牛津仪器(上海)有限公司台式荧光应用工程师,长期从事X射线荧光仪和XRF分析方法的应用与技术支持工作。【内容简介】化学镍(NiP)镀层应用在表面处理行业非常广泛,但生产工艺控制中对于NiP镀层的厚度和成分同时监控是一个难点。...
Vanta新型Vanta系列仪器性能改进:坚固耐用,高效多产仪器配备SD存储卡可使用WI-FI,蓝牙(Bluetooth)适配器进行数据传输可使用USB闪存盘进行方便快速的数据传输Axon技术提高分析结果的精准性IP 65/64—防尘防水坠落测试(MIL-STD-810G) 探测器快门闸保护及聚酰亚胺网眼保护奥林巴斯手持式X射线荧光分析仪可对包括镁和铀在内的很多元素进行快速无损分析,可检测出的含量从百万分率到...
X射线荧光法,一直是元素分析的重要方法,同时也适用于样品涂镀层厚度及成分分析。如果您在如下行业中从事分析测试工作:1. 贵金属、珠宝首饰黄金分析,贵金属合金分析,珠宝镀层分析,铂金上的铑镀层分析2. 钢铁、五金电镀钢材镀锌/铬、铝材镀锆/钛、哈式合金镀层厚度测定3. 装饰材料:装饰涂层分析4. ...
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