ECA CB-13-1990
镀层厚度测定的X射线荧光

X-Ray Fluorescence for Measuring Plating Thickness


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标准号
ECA CB-13-1990
发布
1990年
发布单位
美国电子元器件、组件及材料协会
 
 
目前有多种技术用于测量镀层厚度。所有这些都有特殊的应用和局限性,但是,基本经济学要求在常用的镀层厚度范围内测量金厚度,

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