JEDEC JESD57-1996
重离子辐射中半导体设备的单粒子效应测量的测试规程
Test Procedures for the Measurement of Single-Event Effects in Semiconductor Devices from Heavy Ion Irradiation
JEDEC JESD57-1996 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- JEDEC JESD57-1996
- 发布
- 1996年
- 发布单位
- (美国)固态技术协会,隶属EIA
- 该测试方法定义了集成电路地基单粒子效应 (SEE) 测试的要求和程序。
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