JEDEC JESD57-1996
重离子辐射中半导体设备的单粒子效应测量的测试规程

Test Procedures for the Measurement of Single-Event Effects in Semiconductor Devices from Heavy Ion Irradiation

JEDEC JESD57-1996 发布历史

This test method defines the requirements and procedures for Earth-based single-event effects (SEE) testing of integrated circuits.

JEDEC JESD57-1996由(美国)固态技术协会,隶属EIA US-JEDEC 发布于 1996。

JEDEC JESD57-1996 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合，在国际标准分类中归属于: 31.080 半导体分立器件。

JEDEC JESD57-1996的历代版本如下：

• 1996年 JEDEC JESD57-1996 重离子辐射中半导体设备的单粒子效应测量的测试规程

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标准号

JEDEC JESD57-1996

发布日期

1996年

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080

发布单位

US-JEDEC

适用范围

This test method defines the requirements and procedures for Earth-based single-event effects (SEE) testing of integrated circuits.

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