JEDEC JESD57-1996
重离子辐射中半导体设备的单粒子效应测量的测试规程

Test Procedures for the Measurement of Single-Event Effects in Semiconductor Devices from Heavy Ion Irradiation

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标准号: JEDEC JESD57-1996
发布日期: 1996年
实施日期
废止日期: 无
中国标准分类号: L40
国际标准分类号: 31.080
发布单位: US-JEDEC

适用范围: This test method defines the requirements and procedures for Earth-based single-event effects (SEE) testing of integrated circuits.

JEDEC JESD57-1996 中可能用到的仪器设备

紫外分析仪/紫外检测仪/紫外透射仪

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