GB/T 8750-2007
半导体器件键合用金丝

Gold bonding wire for semiconductor devices


GB/T 8750-2007 中,可能用到以下仪器

 

OLS4500纳米检测显微镜

OLS4500纳米检测显微镜

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

芯硅谷镊子

芯硅谷镊子

上海阿拉丁生化科技股份有限公司

 

芯硅谷 不锈钢水草镊子

芯硅谷 不锈钢水草镊子

上海阿拉丁生化科技股份有限公司

 

GB/T 8750-2007



标准号
GB/T 8750-2007
发布日期
2007年11月23日
实施日期
2008年06月01日
废止日期
2015-02-01
中国标准分类号
H68
国际标准分类号
77.150.99
发布单位
CN-GB
代替标准
GB/T 8750-2014
适用范围
本标准规定了半导体器件键合金丝的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输和贮存等。 本标准适用于半导体器件内引线用的拉伸或挤压金丝。

GB/T 8750-2007系列标准


GB/T 8750-2007 中可能用到的仪器设备





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