ISO 17974:2002由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2002-10。
ISO 17974:2002 在中国标准分类中归属于: N51 物性分析仪器,在国际标准分类中归属于: 71.040.40 化学分析。
本标准有修改采用的 中文版 GB/T 29731-2013 表面化学分析 高分辨俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析用能量标校准
本国际标准规定了用于表面元素和化学状态分析的俄歇电子能谱仪动能标度的校准方法。 它还指定了一个校准计划,用于测试一种中间能量下的动能标度线性度,用于确认一个低动能值和一个高动能值下的标度校准的不确定度,用于校正该标度的小漂移以及定义扩展的不确定度动能标度的校准,置信度为 95%(这种不确定性包括实验室间研究中观察到的行为的贡献,但不涵盖所有可能的缺陷)。 它仅适用于那些配有离子枪进行溅射清洁的仪器。 它不适用于动能标度误差与能量呈显着非线性关系的仪器。 它既不适用于在恒定 ΔEIE 模式下相对分辨率低于 0.2 % 或在恒定 ΔE 模式下低于 1.5 eV 的仪器,也不适用于要求容差限值为 ±0.05 eV 或更低的仪器,也不适用于那些要求 ±0.05 eV 或更小的仪器。 那些带有不能在 5 keV 至 10 keV 能量范围内操作的电子枪的电子枪。 它不提供完整的校准检查来确认能量标尺上每个可寻址点测量的能量,这是根据制造商的建议执行的。
Siegbahn教授研制出世界上第一台X射线光电子能谱仪(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS),并因为对开发高分辨率电子光谱仪的贡献,获得1981年诺贝尔物理学奖。XPS可以通过测定电子结合能来分析化学键成键情况和元素价态等化学信息,是样品表面元素分析的常用表征手段,其在材料研究中的重要地位无需赘述,目前更是有每年超过12000篇包含XPS数据的论文被发表。...
X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学和艺术品,例如油画和壁画。 ...
GB/T 29732—2013《表面化学分析 中等分辨率俄歇电子谱仪 元素分析用能量标校准》;4. GB/T 29557—2013《表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量》;5. GB/T 28894—2012《表面化学分析 分析前样品的处理》;6. GB/T 19500—2004《X—射线光电子能谱分析方法通则》;7. GB/T 25184—2010《X射线光电子能谱仪检定方法》;8....
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