DLA SMD-5962-96747-1997
双极的互补金属氧化物半导体,8-BIT双向的数据总线扫描路径选择器晶体管兼容输入硅单片电路数字微电路

MICROCIRCUIT, DIGITAL, ADVANCED CMOS, SCAN PATH SELECTOR WITH 8-BIT BIDIRECTIONAL DATA BUS, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON

DLA SMD-5962-96747-1997 发布历史

This drawing documents two product assurance dass levels consisting of high reliability (device classes Q and M) and space application (device dass V). A choice of case outlines and lead finishes are available and are reflected in the Part or Identifying Number (PIN). Men available, a choice ofRadiation Hardness Assurance {RHA)levelsare reflectedinthe PIN.

DLA SMD-5962-96747-1997由美国国防后勤局 US-DLA 发布于 1997-03-18。

DLA SMD-5962-96747-1997 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合，在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

DLA SMD-5962-96747-1997的历代版本如下：

• 1997年03月18日 DLA SMD-5962-96747-1997 双极的互补金属氧化物半导体,8-BIT双向的数据总线扫描路径选择器晶体管兼容输入硅单片电路数字微电路

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标准号

DLA SMD-5962-96747-1997

发布日期

1997年03月18日

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

US-DLA

适用范围

This drawing documents two product assurance dass levels consisting of high reliability (device classes Q and M) and space application (device dass V). A choice of case outlines and lead finishes are available and are reflected in the Part or Identifying Number (PIN). Men available, a choice ofRadiation Hardness Assurance {RHA)levelsare reflectedinthe PIN.