IEC 60749-5:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差耐久性试验

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

2017-04

标准号
IEC 60749-5:2003
发布
2003年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60749-5:2017
当前最新
IEC 60749-5:2023 RLV
 
 
被代替标准
IEC 47/1661/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 1:2000 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002 IEC/PAS 62161:2000
适用范围
提供稳态温度和湿度偏置寿命测试,用于评估非气密封装固态器件在潮湿环境中的可靠性。

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