IEC 60749-4:2017
半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热,稳态,高加速应力试验
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
- 标准号
- IEC 60749-4:2017
- 发布
- 2017年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60749-4:2017
- 引用标准
- IEC 60749-5:2003
- 被代替标准
- IEC 47/2346/FDIS:2016 IEC 60749-4:2002 IEC 60749-4 CORR 1:2003
- 适用范围
- IEC 60749的这一部分提供了高度加速的温度和湿度应力测试（HAST），用于评估非气密封装半导体器件在潮湿环境中的可靠性。
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