DIN EN 60749-4:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热、稳态、高加速应力试验
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2002); German version EN 60749-4:2002
- 标准号
- DIN EN 60749-4:2003
- 发布
- 2003年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 替代标准
- DIN EN 60749-4:2017
- DIN EN 60749-4 E:2016-06
- 当前最新
- DIN EN 60749-4:2017-11
- 被代替标准
- DIN EN 60749:2002
- 适用范围
- This part of DIN EN 60749 provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments.
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