IEC 60749-27:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电灵敏度测试.机器模型

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Machine model (MM)

被代替

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标准号

IEC 60749-27:2003

发布

2003年

发布单位

国际电工委员会

替代标准

IEC 60749-27:2006

当前最新

IEC 60749-27:2006/AMD1:2012

 

 

适用范围

根据半导体器件因暴露于定义的机器模型静电放电而损坏或退化的敏感性，建立了测试和分类半导体器件的标准程序。目标是提供可靠、可重复的

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