IEC 60749-27:2006/AMD1:2012
修改件1.半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电（ESD）灵敏度试验.机器模型（MM）

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)


 

 

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标准号
IEC 60749-27:2006/AMD1:2012
发布
2012年
发布单位
国际电工委员会
当前最新
IEC 60749-27:2006/AMD1:2012
 
 

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