IEC 60749-26:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第26部分:静电放电敏感性试验.人体模型

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Human body model (HBM)

2006-07

 

 

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标准号
IEC 60749-26:2003
发布
2003年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60749-26:2006
当前最新
IEC 60749-26:2018
 
 
适用范围
根据半导体器件因暴露于定义的人体模型静电放电而损坏或退化的敏感性，建立了测试和分类半导体器件的标准程序。目标是提供可靠、可重复的

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