IEC 60749-1:2002/COR1:2003
半导体器件.机械和环境试验方法.第1部分:总则
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
- 标准号
- IEC 60749-1:2002/COR1:2003
- 发布
- 2003年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60749-1:2002/COR1:2003
- 适用范围
- This standard is Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General; Corrigendum 1.
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