IEC 60749-31:2002/COR1:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第31部分:塑料密封器件的易燃性(内部引起的)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
- 标准号
- IEC 60749-31:2002/COR1:2003
- 发布
- 2003年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60749-31:2002/COR1:2003
- 适用范围
- 这是 IEC 60749-31-2002 的技术勘误表 1（Dispositifs a semiconducteurs -Methodes d'essais mecaniques et climatiques -Partie31:Inflammabilite des dispositifs a encapsulation plastique（cas d'une Cause interne d'Inflammation））
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