ASTM E721-07
电子辐射强度试验用中子探测器测定中子能谱的标准指南

Standard Guide for Determining Neutron Energy Spectra from Neutron Sensors for Radiation-Hardness Testing of Electronics

被代替

标准号

ASTM E721-07

发布

2007年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E721-11

当前最新

ASTM E721-22

 

 

引用标准

ASTM E1018 ASTM E1297 ASTM E170 ASTM E1855 ASTM E261 ASTM E262 ASTM E263 ASTM E264 ASTM E265 ASTM E266 ASTM E393 ASTM E523 ASTM E526 ASTM E704 ASTM E705 ASTM E720 ASTM E722 ASTM E844 ASTM E944

适用范围

了解电子设备辐射硬度测试中使用的特定中子源的能谱非常重要，以便将辐射效应与设备性能退化联系起来。本指南描述了选择和实施频谱调整方法时必须考虑的因素。尽管指南 E 720 中讨论了传感器（箔）的选择和响应（活动）的确定，但实验不应脱离分析。事实上，进行光谱测定的分析人员密切参与实验设计是有利的，以确保获得的数据提供尽可能准确的光谱。这些数据包括以下内容：（1）测量的响应，例如暴露在环境中的箔的活动及其不确定性，（2）响应函数，例如反应横截面以及适当的相关性和不确定性，（3）测试环境，以及 (4) 从输运计算或以前的经验中获得的试验函数或先验谱及其不确定性。
1.1 本指南涵盖了确定电子辐射硬度测试中使用的中子能量微分注量谱的程序。半导体器件。本指南特别涵盖的中子源类型是在稳态或脉冲模式下使用的裂变或退化能量裂变源。
1.2 本指南提供了在选择频谱调整方法的过程中可以应用的指导和标准，最适合现有数据并与所调查的环境相关。
1.3 本指南将与指南 E 720 一起使用来表征中子能谱，并与实践 E 722 一起使用来表征通常与电子半导体器件的辐射硬度测试相关的损伤相关参数。注 1 虽然指南 E 720 仅讨论激活箔传感器，但可以使用已知响应函数的任何能量相关中子响应传感器 ()。 注 2 有关本指南中使用的术语，请参见术语 E 170.1.4 中规定的值SI 单位被视为标准。本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

推荐

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