5.分析方法参考标准 ASTM E1078-2009 表面分析中试样制备和安装程序的标准指南 ASTM E1504-2011 次级离子质谱(SIMS)测定中质谱数据报告的标准规范 ASTM E1829-2009 先于表面分析的样品处置标准指南 ...
在将衬底表面上的10-20μm薄片进行组织切片和安装之后,进行SIMS分析。这提供了在高空间分辨率下的低分子量成像MS数据。静态SIMS除去表面材料的不到1%,因此残留的表面仍然可以进一步分析。SIMS研究完成后,可以用基质涂层覆盖组织表面(参见“基质涂层”一节)。根据感兴趣的分析物,表面可以或不能被洗涤。洗涤方案对所得结果有重要影响。...
在使用S-SIMS进行分析时,目前可以查找到多种有机化合物的标准谱图,可以参照手册对典型化合物进行定性分析。但在分析一些手册中没有的化合物,一般需要先测定化学结构已知的标准样品,并将测定结果作为解析的基本谱图。3.3 SIMS仪器类型[2]根据微区分析能力和数据处理方式,可以将SIMS分为三种类型:(1)非成像型离子探针。...
1 次级离子质谱成像技术(SIMS-MSI)次级离子质谱法(SIMS)成像是质谱成像方法中具有高分辨率的,应用最早的方法之一,它第一次跟世人见面是在20世纪80年代[3]。与其他MSI技术相比,SIMS的主要优势是能够将分析区域限制在~100 nm,使用铯或氧一次离子束,可以使光斑聚焦至~50 nm,通过离子束的优化,能实现迄今为止MSI方法的最高空间分辨率。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号