ASTM E1635-06由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2006。
ASTM E1635-06 在中国标准分类中归属于: A43 化学。
ASTM E1635-06 报告次级离子质谱法(SIMS)成像数据用标准实施规程的最新版本是哪一版？
最新版本是 ASTM E1635-06(2019) 。
本实践用于报告实验和数据缩减程序，并在数据发布时进行描述。
1.1 本实践列出了描述在获取和报告生成的图像时使用的仪器、实验和数据缩减程序所需的最少信息二次离子质谱法 (SIMS)。
1.2 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。
5.分析方法参考标准 ASTM E1078-2009 表面分析中试样制备和安装程序的标准指南 ASTM E1504-2011 次级离子质谱(SIMS)测定中质谱数据报告的标准规范 ASTM E1829-2009 先于表面分析的样品处置标准指南 ...
在将衬底表面上的10-20μm薄片进行组织切片和安装之后，进行SIMS分析。这提供了在高空间分辨率下的低分子量成像MS数据。静态SIMS除去表面材料的不到1%，因此残留的表面仍然可以进一步分析。SIMS研究完成后，可以用基质涂层覆盖组织表面(参见“基质涂层”一节)。根据感兴趣的分析物，表面可以或不能被洗涤。洗涤方案对所得结果有重要影响。...
在使用S-SIMS进行分析时，目前可以查找到多种有机化合物的标准谱图，可以参照手册对典型化合物进行定性分析。但在分析一些手册中没有的化合物，一般需要先测定化学结构已知的标准样品，并将测定结果作为解析的基本谱图。3.3 SIMS仪器类型[2]根据微区分析能力和数据处理方式,可以将SIMS分为三种类型:(1)非成像型离子探针。...
1 次级离子质谱成像技术(SIMS-MSI)次级离子质谱法(SIMS)成像是质谱成像方法中具有高分辨率的，应用最早的方法之一，它第一次跟世人见面是在20世纪80年代[3]。与其他MSI技术相比，SIMS的主要优势是能够将分析区域限制在~100 nm，使用铯或氧一次离子束，可以使光斑聚焦至~50 nm，通过离子束的优化，能实现迄今为止MSI方法的最高空间分辨率。...
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