ASTM E1217-00
用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范

Standard Practice for Determination of the Specimen Area Contributing to the Detected Signal in Auger Electron Spectrometers and Some X-Ray Photoelectron Spectrometers


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标准号
ASTM E1217-00
发布
2000年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E1217-05
当前最新
ASTM E1217-11(2019)
 
 
1.1 本实践描述了当该区域由电子收集透镜/孔径系统定义时，确定对 X 射线光电子能谱 (XPS) 和俄歇电子能谱 (AES) 中检测到的信号有贡献的样品区域的方法。建议将其作为一种有用的方法，用于确定不同光谱仪操作条件下观察到的样品区域、验证样品是否充分对准以及表征电子能量分析仪的成像特性。 1.2 这种做法仅适用于由 X 射线或电子束激发的样品区域大于或...

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ASTM E1217-00 中可能用到的仪器设备

高光谱仪/高光谱成像仪

谁引用了ASTM E1217-00 更多引用

ASTM E2735-14(2020) 用于选择X射线光电子能谱所需校准的标准指南 ASTM E1016-07(2020) 文献描述静电电子光谱仪性质的标准指南 ASTM E2735-14 选择X射线光电子光谱40;XPS41试验所需校准的标准指南 ASTM E1016-07(2012)e1 静电电子分光仪性能描述文献的标准指南


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