ASTM E668-05
电子器件辐射硬化试验中测量吸收剂量用的热致发光剂量测量(TLD)系统应用的标准实施规程

Standard Practice for Application of Thermoluminescence-Dosimetry (TLD) Systems for Determining Absorbed Dose in Radiation-Hardness Testing of Electronic Devices

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标准号

ASTM E668-05

发布

2005年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E668-10

当前最新

ASTM E668-20

 

 

适用范围

材料中的吸收剂量是一个重要参数，它与暴露于电离辐射的电子元件和设备中产生的辐射效应相关。如果可以获得源辐射场（即能谱和粒子注量）的知识，则可以计算该参数的合理估计。通常无法获得有关辐射场的足够详细的信息。然而，在辐射测试设施中使用无源剂量计测量吸收剂量可以提供信息，从中可以推断出感兴趣材料中的吸收剂量。在某些规定条件下，TLD 非常适合执行此类测量。注 28212；有关适用于本实践中讨论的辐射类型和能量以及吸收剂量率范围的各种剂量测定方法的综合讨论，请参阅 ICRU 报告 14、17、21 和 34.1.1 本实践涵盖了使用热释光的程序剂量计 (TLD) 用于确定受电离辐射照射的材料中的吸收剂量。尽管该程序的某些要素具有更广泛的应用，但值得关注的具体领域是电子设备的辐射硬度测试。本实践适用于伽马射线、X射线和能量为12至60 MeV的电子辐照材料吸收剂量的测量。具体的能量限制包含在描述程序的具体应用的适当部分中。所覆盖的吸收剂量范围约为102至10 4 Gy（1至106拉德），吸收剂量率范围约为102至1010戈瑞/秒（1至1012拉德/秒）。本实践不包括经受中子辐照的材料的吸收剂量和吸收剂量率测量。此外，这些程序中涉及电子辐照的部分主要用于零件测试。作为较大部件（例如电子板或盒子）的一部分的设备测试可能需要本实践范围之外的技术。注释18212；电子辐射能量上限和下限的目的是接近极限情况，其中剂量测定得到简化。具体而言，指定的剂量测定方法要求达到以下三个限制条件：（a）一次电子的能量损失很小，（b）二次电子大部分在剂量计内停止，（c）一次电子产生的轫致辐射电子大量损失。
1.2 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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