IEC 62047-4:2008
半导体装置.微电机装置.第4部分:MEMS用总规范

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specifications for MEMS


标准号
IEC 62047-4:2008
发布
2008年
中文版
GB/T 32817-2016 (修改采用的中文版本)
发布单位
国际电工委员会
当前最新
IEC 62047-4:2008
 
 
引用标准
IEC 60027 IEC 60068-2 IEC 60617 IEC 60747-1:2006 IEC 60749 IEC 61193-2 IEC 62047-1 IEC QC 001002-3:2005 ISO 1000 ISO 2859-1
被代替标准
IEC 47/1975/FDIS:2008
适用范围
IEC 62047 的这一部分描述了由半导体制成的微机电系统 (MEMS) 的通用规范,这是本系列其他部分针对各种类型 MEMS 应用(例如传感器、RF MEMS,不包括光学 MEMS)给出的规范的基础。生物 MEMS、微型 TAS 和功率 MEMS。该标准规定了 IECQ-CECC 系统中使用的质量评估的一般程序,并建立了描述和测试电气、光学、机械和环境特性的一般原则。 IEC 62047 的这一部分有助于制定定义微加工技术制造的设备和系统的标准,包括但不限于材料表征和处理、组装和测试、过程控制和测量方法。该标准中描述的MEMS基本上由半导体材料制成。然而,本标准中的陈述也适用于使用半导体以外材料的MEMS,例如聚合物、玻璃、金属和陶瓷材料。

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