JIS C5630-3-2009
半导体器件.微型机电器件.第3部分:拉伸测试用薄膜标准试样

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing

 

 

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标准号
JIS C5630-3-2009
发布日期
2009年03月20日
实施日期
废止日期
无
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.99
发布单位
JP-JISC
引用标准
JIS C5630-2

JIS C5630-3-2009系列标准

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