SANS 3497:1990
金属镀层．镀层厚度的测定．X射线光谱测定法
Metallic coatings - Measurement of coating thickness - X-ray spectrometric methods
2008-11
SANS 3497:1990 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- SANS 3497:1990
- 发布
- 1990年
- 发布单位
- ZA-SANS
- 替代标准
- SANS 3497-2008
- SANS 3497:2008
- 当前最新
- SANS 3497-2008
- SANS 3497:2008
- 本国际标准规定了采用 X 射线光谱法测量金属涂层厚度的方法。这些方法允许同时测量一些三层系统。 2. 本国际标准适用的测量方法从根本上来说是测定单位面积质量的方法。利用涂层材料密度的知识，测量结果也可以表示为涂层的线性厚度。 3. 给定涂层材料的实际测量范围很大程度上取决于可接受的测量不确定度，并且可能因所使用的仪器系统和操作程序而异。附录 A 中给出了常见...
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