BS EN 60749-24:2004
半导体器件.机械和气候试验方法.加速耐湿性.无偏差HAST
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
- 标准号
- BS EN 60749-24:2004
- 发布
- 2004年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN 60749-24:2004
- 被代替标准
- 02/207670 DC-2002
- 适用范围
- 无偏高加速应力测试（HAST）的目的是评估非密封封装固态器件在潮湿环境中的可靠性。 它是一种高度加速的测试，利用非冷凝条件下的温度和湿度来加速湿气穿过外部保护材料（封装剂或密封件）或沿着外部保护材料与穿过其的金属导体之间的界面的渗透。 在此测试中未应用偏压，以确保可以发现可能被偏压掩盖的故障机制（例如电偶腐蚀）。 该测试用于识别封装内部的故障机制，并且具有破坏性。 注：本测试完全重写了 IEC 60749 (1996) 第 3 章第 4C 条中包含的测试（无偏置电压）。
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