AS ISO 17974:2006
表面化学分析.高分辨率俄歇电子分光计法.元素及化学物质状态分析用能量标度校准

Surface chemical analysis - High-resolution Auger electron spectrometers - Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 AS ISO 17974:2006 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 

标准号
AS ISO 17974:2006
发布单位
澳大利亚标准协会
替代标准
AS ISO 17974:2006(R2016)
当前最新
AS ISO 17974:2006(R2016)
 
 
适用范围
采用 ISO 17974:2002 规定了用于表面元素和化学状态分析的俄歇电子能谱仪动力学标度的校准方法。

AS ISO 17974:2006相似标准


推荐

XPS能谱仪--XPS谱图分析技术

此外,有一些化合物的标准数据依据不同的作者和仪器状态存在很大的差异,在这种情况下这些标准数据仅能作为参考,最好是自己制备标准样,这样才能获得正确的结果。另外,元素可能的化学状态有时也要结合实验过程来分析。还有一些元素的化学位移很小,XPS的结合能不能有效地进行化学价态分析,在这种情况下,就需要借助谱图中的线形,伴峰结构参数分析。...

"第二届表面分析技术应用论坛--X射线光电子能谱仪使用分析规范"网络主题研讨会顺利召开

吴老师的报告内容力求通俗、易懂、实用,通过具体实例讲述灵敏度因子的使用,意在帮助XPS分析和使用人员准确解读、规范使用XPS灵敏度因子。X射线光电子谱(XPS)被广泛应用于材料的表面分析,样品中的元素(除氢和氦外)可以通过测量光电子谱确定的芯能级结合能比对表中给出的这些能量所对应的元素而辨识出来。有关这些元素化学状态的信息可由光电子电子的特征电子的特征峰相对于参考态的化学位移推出。...

学术干货丨金属和合金微观分析常用技术盘点

AES的基本原理是用电子束或X射线轰击试样表面,使其表面原子内层能级电子被击出而形成空穴,较高能级电子填补空穴并将释放的能量传递给另一电子使之逸出(即电子),通过检测电子能量和强度,从而获得有关表面层化学成分的定性和定量信息。现已成为表面元素定性、半定量分析元素深度分布和微区分布的无损检测手段,是目前最常用的最重要的材料表面元素组成分析方法之一。...

X射线光电子能谱仪培训PPT

能谱一样,它仅能反映样品的表面成分信息,信息深度与能谱相同。光电子能量具有特征值。光电子谱线:峰位→元素的种类;高度→元素的含量;峰位位移→元素的化学状态。作用:表面元素的定性分析、定量分析和化学状态分析。2)X射线源要求:单色,且线宽愈窄愈好。...


AS ISO 17974:2006 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号