SJ/T 11404-2009
铌酸锂集成光学器件通用规范
General specifications for LiNbOintegrated optical devices
SJT11404-2009, SJ11404-2009
SJ/T 11404-2009 发布历史
SJ/T 11404-2009由行业标准-电子 CN-SJ 发布于 2009-11-17，并于 2010-01-01 实施。
SJ/T 11404-2009 在中国标准分类中归属于: M33 光通信设备，在国际标准分类中归属于: 33.180 光纤通信。
SJ/T 11404-2009 发布之时，引用了标准
- GB/T 18310.4-2001 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-4部分;试验 光纤/光缆保持力
- GB/T 191-2008 包装储运图示标志
- GB/T 2421-1999 电工电子产品环境试验 第1部分;总则
- GB/T 2423.1-2001 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验A: 低温
- GB/T 2423.10-2008 电工电子产品环境试验.第2部分: 试验方法.试验Fc: 振动(正弦)
- GB/T 2423.11-1997 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fd: 宽频带随机振动--一般要求
- GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验B:高温
- GB/T 2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验N: 温度变化
- GB/T 2423.28-2005 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验T:锡焊
- GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验Ea和导则;冲击
- GB/T 2828.1-2003 计数抽样检验程序 第1部分;按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
- GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法
- GJB 4026-2000 铌酸锂集成光学器件通用规范
- SJ 20869-2003 铌酸锂集成光学波导调制器测试方法
SJ/T 11404-2009的历代版本如下：
- 2009年 SJ/T 11404-2009 铌酸锂集成光学器件通用规范
本规范规定了铌酸锂集成光学器件所需的质量评定程序、检验要求、筛选、抽样要求、试验和测量方法的内容。 本规范适用于由铌酸锂材料制作的强度调制器、相位调制器、光开关以及用于光纤陀螺的Y波导相位调制器等，由钽酸锂材料制造的具有类似功能的集成光学器件可参照执行。
- 标准号
- SJ/T 11404-2009
- 别名
- SJT11404-2009
SJ11404-2009 - 发布
- 2009年
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 当前最新
- SJ/T 11404-2009
- 引用标准
- GB/T 18310.4-2001 GB/T 191-2008 GB/T 2421-1999 GB/T 2423.1-2001 GB/T 2423.10-2008 GB/T 2423.11-1997 GB/T 2423.2-2008 GB/T 2423.22-2002 GB/T 2423.28-2005 GB/T 2423.5-1995 GB/T 2828.1-2003 GJB 128A-1997 GJB 4026-2000 SJ 20869-2003
SJ/T 11404-2009相似标准
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