ASTM F744M-10
数字集成电路扰乱的剂量速率阙值测定的标准试验方法【公制单位】

Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits [Metric]

被代替

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标准号: ASTM F744M-10
发布: 2010年
发布单位: 美国材料与试验协会
替代标准: ASTM F744M-16
当前最新: ASTM F744M-16

数字集成电路指定其输入和输出工作在逻辑 1 或逻辑 0 状态。具有不满足这些电平中任一个的规范的电压电平的信号的出现（扰乱条件）可能导致数字系统中错误数据的生成和传播。了解导致数字集成电路混乱的辐射剂量率对于在脉冲辐射环境中运行的电子系统的设计、生产和维护至关重要。1.1 本测试方法涵盖阈值水平的测量静态工作条件下导致数字集成电路混乱的辐射剂量率。辐射源是闪...

ASTM F744M-10
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