ISO 29301:2010
微光束分析.分析的透射电子显微镜法.具有周期性结构的基准物质校准图像放大的方法

Microbeam analysis - Analytical transmission electron microscopy - Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures

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标准号: ISO 29301:2010
发布: 2010年
发布单位: 国际标准化组织
替代标准: ISO 29301:2017
当前最新: ISO 29301:2023

引用标准: ISO Guide 30:1992 ISO Guide 34:2000 ISO Guide 35:2006 ISO/IEC 17025:2005 ISO/IEC Guide 98-3:2008

本国际标准规定了适用于透射电子显微镜（TEM）在宽放大倍率范围内记录的图像的校准程序。用于校准的参考材料具有周期性结构，例如衍射光栅复制品、半导体的超晶格结构或用于X射线分析的分析晶体以及碳、金或硅的晶格图像。本国际标准适用于记录在照相胶片或成像板上或由内置于数码相机中的图像传感器检测到的TEM图像的放大倍数。本国际标准还涉及比例尺的校准。本国际标准...

ISO 29301:2010
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