ISO 29301:2010由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2010-06。
ISO 29301:2010 在中国标准分类中归属于: N32 放大镜与显微镜，在国际标准分类中归属于: 37.020 光学设备。
本国际标准规定了适用于透射电子显微镜（TEM）在宽放大倍率范围内记录的图像的校准程序。 用于校准的参考材料具有周期性结构，例如衍射光栅复制品、半导体的超晶格结构或用于X射线分析的分析晶体以及碳、金或硅的晶格图像。 本国际标准适用于记录在照相胶片或成像板上或由内置于数码相机中的图像传感器检测到的TEM图像的放大倍数。 本国际标准还涉及比例尺的校准。 本国际标准不适用于专用临界尺寸测量TEM（CD-TEM）和扫描透射电子显微镜（STEM）。
▽ 透射电镜基本构造示意图3 原 理透射电镜和光学显微镜的各透镜及光路图基本一致，都是光源经过聚光镜会聚之后照到样品，光束透过样品后进入物镜，由物镜会聚成像，之后物镜所成的一次放大像在光镜中再由物镜二次放大后进入观察者的眼睛，而在电镜中则是由中间镜和投影镜再进行两次接力放大后最终在荧光屏上形成投影供观察者观察。电镜物镜成像光路图也和光学凸透镜放大光路图一致。...
▍相关测试标准：JJF（闽）1032-2010 液相色谱-质谱联用 仪校准规范GB/T6041-2002 《质谱分析方法通则》JJSK0136-2004 《高效液相色谱法-质谱分析法一般规则》04X射线衍射X射线衍射即通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。...
扫描电子显微镜(SEM) 是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm；放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调；并且景深大, 视野大, 成像立体效果好。...
此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。 由于透射电镜是TE进行成像的，这就要求样品的厚度必须保证在电子束可穿透的尺寸范围内。为此需要通过各种较为繁琐的样品制备手段将大尺寸样品转变到透射电镜可以接受的程度。 ...
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