GJB 6777-2009
军用电子元器件<左上标252>Cf源单粒子效应实验方法
Testing method of single event effects in Cf radiation source for military electronic devices
说明：
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- 标准号
- GJB 6777-2009
- 发布日期
- 2009年05月25日
- 实施日期
- 2009年08月01日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- L10
- 发布单位
- CN-GJB-Z
- 引用标准
- GB 18871-2002 GJB 2172-1996 GJB 3756-1999
- 适用范围
- 本标准规定了军用电子元器件<左上标252>Cf源上进行实验室单粒子效应实验的方法和基本要求。 本标准适用于军用电子元器件<左上标252>Cf源单粒子效应试验。商用电子元器件亦可参照执行。