GJB 6777-2009
军用电子元器件<左上标252>Cf源单粒子效应实验方法

Testing method of single event effects in Cf radiation source for military electronic devices

GJB 6777-2009 发布历史

本标准规定了军用电子元器件Cf源上进行实验室单粒子效应实验的方法和基本要求。 本标准适用于军用电子元器件Cf源单粒子效应试验。商用电子元器件亦可参照执行。

GJB 6777-2009由国家军用标准-总装备部 CN-GJB-Z 发布于 2009-05-25，并于 2009-08-01 实施。

GJB 6777-2009 在中国标准分类中归属于: L10 电子元件综合。

GJB 6777-2009 发布之时，引用了标准

• GB 18871-2002 电离辐射防护与辐射源安全基本标准

GJB 6777-2009的历代版本如下：

• 2009年05月25日 GJB 6777-2009 军用电子元器件<左上标252>Cf源单粒子效应实验方法

标准号

GJB 6777-2009

发布日期

2009年05月25日

实施日期

2009年08月01日

废止日期

无

中国标准分类号

L10

发布单位

CN-GJB-Z

引用标准

GB 18871-2002 GJB 2172-1996 GJB 3756-1999

适用范围

本标准规定了军用电子元器件<左上标252>Cf源上进行实验室单粒子效应实验的方法和基本要求。 本标准适用于军用电子元器件<左上标252>Cf源单粒子效应试验。商用电子元器件亦可参照执行。