JEDEC JESD51-14-2010
单通道热流半导体器件结壳热阻瞬态双界面测试方法
Transient Dual Interface Test Method for the Measurement of the Thermal Resistance Junction to Case of Semiconductor Devices with Heat Flow Trough a Single Path
JEDEC JESD51-14-2010 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- JEDEC JESD51-14-2010
- 发布
- 2010年
- 发布单位
- (美国)固态技术协会,隶属EIA
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