JEDEC JESD51-14-2010
单通道热流半导体器件结壳热阻瞬态双界面测试方法
Transient Dual Interface Test Method for the Measurement of the Thermal Resistance Junction to Case of Semiconductor Devices with Heat Flow Trough a Single Path
- 标准号
- JEDEC JESD51-14-2010
- 发布
- 2010年
- 发布单位
- (美国)固态技术协会,隶属EIA
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简介热阻测试仪的特点
2.既能测试稳态热阻，也能测试瞬态热阻抗。 3.满足JEDEC最新的结壳热阻（θｊｃ）测试标准（JESD51-14）。 4.测试方法符合 IEC 60747系列标准。 5.满足 LED 的国际标准 JESD51-51，以及LED 光热一体化的测试标准 JESD51-52。 ...
热阻测试仪的测试方法
② 一次测试，既可以得到稳态的结温热阻数据，也可以得到结温随着时间的瞬态变化曲线。 ③ 瞬态温度响应曲线包含了热流传导路径中每层结构的详细热学信息（热阻和热容参数）。...
热阻测试仪的应用范围及功能
2.功能： ①半导体器件结温测量； ②半导体器件稳态热阻及瞬态热阻抗测量； ③半导体器件热阻和热容测量，给出器件的热阻热容结构（RC 网络结构）； ④半导体器件封装内部结构分析，包括器件封装内部每层结构（芯片+焊接层+热沉等）的热阻和热容参数； ⑤半导体器件老化试验分析和封装缺陷诊断，帮助用户准确定位封装内部的缺陷结构； ⑥材料热特性测量（导热系数和比热容）； ⑦接触热阻测量，包括导热胶...