IEC 62276-2005
表面声波装置用单晶薄片.规范和测量方法

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device application - Specifications and measuring methods

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标准号

IEC 62276-2005

发布日期

2005年05月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L21

国际标准分类号

31.140

发布单位

IX-IEC

代替标准

IEC 62276-2012

适用范围

This International Standard applies to the manufacture of synthetic quartz, lithium niobate (LN), lithium tantalate (LT), lithium tetraborate (LBO), and lanthanum gallium silicate (LGS) single crystal wafers intended for use as substrates in the manufacture of surface acoustic wave (SAW) filters and resonators.