IEC 62276:2005
表面声波装置用单晶薄片.规范和测量方法

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device application - Specifications and measuring methods

被代替

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标准号

IEC 62276:2005

发布

2005年

中文版

GB/T 30118-2013 (修改采用的中文版本)

发布单位

国际电工委员会

替代标准

IEC 62276:2012

当前最新

IEC 62276:2016

 

 

适用范围

This International Standard applies to the manufacture of synthetic quartz, lithium niobate (LN), lithium tantalate (LT), lithium tetraborate (LBO), and lanthanum gallium silicate (LGS) single crystal wafers intended for use as substrates in the manufacture of surface acoustic wave (SAW) filters and resonators.

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