IEC 62276-2005
表面声波装置用单晶薄片.规范和测量方法

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device application - Specifications and measuring methods


说明:

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标准号
IEC 62276-2005
发布日期
2005年05月
实施日期
废止日期
中国标准分类号
L21
国际标准分类号
31.140
发布单位
IX-IEC
代替标准
IEC 62276-2012
适用范围
This International Standard applies to the manufacture of synthetic quartz, lithium niobate (LN), lithium tantalate (LT), lithium tetraborate (LBO), and lanthanum gallium silicate (LGS) single crystal wafers intended for use as substrates in the manufacture of surface acoustic wave (SAW) filters and resonators.




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