BS ISO 27911:2011
表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
Surface chemical analysis. Scanning-probe microscopy. Definition and calibration of the lateral resolution of a near-field optical microscope
BS ISO 27911:2011 中，可能用到以下仪器
BS ISO 27911:2011相似标准
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近场光学显微镜（英文名：SNOM）是根据非辐射场的探测与成像原理，能够突破普通光学显微镜所受到的衍射极限，采用亚波长尺度的探针在距离样品表面几个纳米的近场范围进行扫描成像的技术，在近场观测范围内，在样品上进行扫描而同时得到分辨率高于衍射极限的形貌像和光学像的显微镜。 近场光学显微镜适用于超高光学分辨率下进行纳米尺度光学成像与纳米尺度光谱研究。...
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纳米光刻在纳米光刻技术中，人们借助机械或电学的方法，用悬臂使样品表面改性。机械方法是将一个结实的特制悬臂大力刻入表面，电学方法则是使用偏压悬臂使表面区域发生氧化。近场扫描光学显微镜 （ NSOM）在近场扫描光学显微镜（NSOM）里中，人们使用一个特制的纳米孔径探针来进行形貌扫描。...
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近场光学显微镜根据非辐射场的探测和成像原理，能够突破普通光学显微镜所受到的衍射极限，可以在超高光学分辨率下进行纳米尺度光学成像与纳米尺度光谱研究。近场光学显微镜 由探针、信号传输器件、扫描控制、信号处理和信号反馈等系统组成。近场产生和探测原理：入射光照射到表面上有许多微小细微结构的物体上，这些细微结构在入射光场的作用下，产生的反射波包含限制于物体表面的倏逝波和传向远处的传播波。...